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簡要描述:X射線熒光光譜儀具有創(chuàng)新的光學上述配置。由于樣品室的維護,再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。光學元件以上的幾何結(jié)構消除了清潔問題并延長了使用時間。ZSX Primus IV WDXRF光譜儀具有的性能和分析最復雜樣品的靈活性,采用30微米的管子,這是業(yè)界最薄的終端窗口管,可提供出色的輕元素(低Z)檢測限。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | 其他品牌 | 行業(yè)專用類型 | 電子產(chǎn)品 |
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價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 手持式/便攜式 |
應用領域 | 電子,電氣 |
Rigaku ZSX Primus IV是一種管式以上的連續(xù)波長色散X射線熒光(WDXRF)光譜儀,可以快速定量測定鈹(Be)到鈾(U)中的主要和次要原子元素,樣本類型 - 以低標準。
ZSX指導為XRF測量和數(shù)據(jù)分析的各個方面提供支持。準確的分析只能由專家進行嗎?不 - 那是過去。ZSX Guidance軟件具有內(nèi)置的XRF專業(yè)知識和熟練的專家知識,可以處理復雜的設置。操作員只需輸入有關樣品,分析組分和標準組成的基本信息。具有最小重疊,最佳背景和校正參數(shù)(包括線重疊)的測量線可以借助質(zhì)譜自動設置。
ZSX Primus IV具有創(chuàng)新的光學上述配置。由于樣品室的維護,再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。光學元件以上的幾何結(jié)構消除了清潔問題并延長了使用時間。ZSX Primus IV WDXRF光譜儀具有的性能和分析最復雜樣品的靈活性,采用30微米的管子,這是業(yè)界最薄的終端窗口管,可提供出色的輕元素(低Z)檢測限。
結(jié)合*測繪包裝來檢測均勻性和包裹體,ZSX Primus IV可以對樣品進行簡單詳細的XRF光譜測量研究,以提供其他分析方法不易獲得的分析見解。可用的多點分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。
EZ掃描允許用戶在未事先設置的情況下對未知樣品進行XRF元素分析。節(jié)省時間功能只需點擊幾下鼠標并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件,它可以提供最準確,最快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應,包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應。使用匹配庫和的掃描分析程序可以提高準確度。
從Be到U的元素分析
ZSX指導專家系統(tǒng)軟件
數(shù)字多通道分析儀(D-MCA)
EZ分析界面進行常規(guī)測量
管道上方的光學器件使污染問題最小化
占地面積小,使用的實驗室空間有限
微量分析可分析小至500μm的樣品
30μ管提供的輕元素性能
映射功能的元素地形/分布
氦氣密封意味著光學器件始終處于真空狀態(tài)
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